点亮数字中国｜格创东智再获数字化转型大奖！
2021-06-10
2021年是“十四五”规划的开局之年，十三届全国人大四次会议表决通过的“十四五”规划，将“加快数字发展，建设数字中国”作为独立篇章，勾画出未来五年数字中国建设新图景。我国数字经济持续发展，新业态、新模式层出不穷，数字经济正成为中国经济高质量发展的新引擎。在此背景下，凤凰网广东围绕“点亮数字中国”主题开设企业数字化重磅奖项评选活动，并于「2021粤港澳大湾区数字化发展高峰论坛」上公布。格创东智凭借诸多企业数字化优秀落地实践案例，赢得了「企业数字化最佳创新解决方案」奖项。
格创东智孵化于有40年先进制造业经验的领军企业TCL，从诞生之日起便聚焦先进制造业，聚焦生产现场，赋能工业数据价值变现，时至今日已打磨沉淀多款“明星产品”，如东智MFA多因子分析、东智EHM设备健康管理、东智EMS能源管理系统、东智天枢AI视觉检测系统等，在集成电路、新型显示、半导体分立器件、半导体材料、3C电子、通信设备、新能源、飞机制造、石油石化、汽车零配件、医药、机械等三十余个行业中打造了上百个创新数字化转型案例。格创东智为TCL华星光电打造的ADC（人工智能自动缺陷分类系统），是国内半导体显示行业第一个真正落地的人工智能应用。面板属于精密仪器，对产品良率的要求非常高，但是面板的一些细微瑕疵微小，不容易被检测出来。过去，在液晶面板生产流水线上，工业缺陷检测大都依赖人工判定，因此有一个专门的判片部门，员工盯着电脑看图，将AOI（自动光学检测）设备拍照的结果用人眼判别，根据缺陷形态对缺陷分类，以确定质量是不是达标。这个环节往往面临几个困扰，第一，招工特别难，人员培养需要时间，第二，人工判定准确率的稳定性尚有提高空间。随着ADC的引入，情况大为不同。ADC系统利用大数据、AI深度学习、机器视觉等最新技术，将产品图像与已知缺陷图像库进行比对，通过先进的算法模型，智能检测缺陷种类，自动分析异常并给出解决方案。通过该系统与现有检验流程的集成，还能够迅速启动和运行该解决方案。ADC应用每年可为TCL华星光电综合效益提升1500万元。此外，R2R（Run to Run Control，批间控制）极致品质控制解决方案也是针对半导体生产品质提升难问题，格创东智自研打磨的一款“爆款”产品，并获得了2020第二届中国工业互联网大赛全国第二名。半导体批次制程被认为是当今最为复杂的高技术制程，也正因其制程工序复杂、制程高度重入以及品质实时控制难等问题，半导体的生产良率提升非常困难。针对这个难题，格创东智R2R解决方案以生产环境（工业互联网）与现场测量（抽检量测&虚拟量测）数据为依据，利用数据驱动、反馈控制、局部优化等方法，达到补偿生产过程扰动、提升生产品质的目的。目前，基于方案已在TCL华星光电武汉t3、t4工厂蒸镀和曝光等关键制程上线应用，明显减少生产变异，预计每年企业可增加收益数百万元。创新是发展动力之源，格创东智汇聚工业互联网顶尖技术团队，始终走在数字化创新发展第一线，今后将沉淀更加丰富的工业应用，助力数字化腾飞之路。
