格创东智 GETECH.CN 格创东智 GETECH.CN

400 600 2869
AIFactory智慧工厂-ADC
方案概述:
格创东智基于自主研发的AI平台,将AOI设备和AI算法结合,利用图像识别算法、深度学习算法,开发基于AOI视觉识别的外观检测算法框架,可以对生产制程中的缺陷图片进行训练和分类,实现了无间断、高精准的缺陷识别和自主判定功能。

业务挑战:

华星光电作为全球面板显示领域的领军企业,在品质检测环节一直追求着更高要求。尽管利用AOI(自动光学检测)设备可以锁定产品缺陷,并自动拍照,但只能依靠人工进行检测分类。



客户价值:

格创东智打造的人工智能自动缺陷分类系统(ADC),是国内半导体显示行业第一个真正落地的人工智能应用。ADC系统利用大数据、AI深度学习、机器视觉等最新技术,将产品图像与已知缺陷图像库进行比对,通过先进的算法模型,智能检测缺陷种类,自动分析异常并给出解决方案。通过该系统与现有检验流程的集成,还能够迅速启动和运行该解决方案。